Různé typy elektronových mikroskopů

elektronová mikroskopie využívá zaostřený paprsek elektronů vytvořit obrázky s vysokým rozlišením cílového vzorku. Vzhledem k tomu, Mikroskop je omezeno jejich zvětšení vlnovou délkou fotonů, jsou elektronové mikroskopy omezeny na mnohem menší vlnovou délkou elektronů, čímž se dosáhne zvětšení až na téměř 0,05 nanometrů. Existují čtyři hlavní typy elektronových mikroskopů, z nichž všechny mohou být zhruba vymezen podle typu odražené energie se nahrávat ze vzorku. Historie

První elektronový mikroskop, transmisní elektronový mikroskop, byl postaven podle německých inženýrů Knoll a Ernst Ruska Max v roce 1931. Ačkoli původní prototyp dosáhl nižší zvětšení, než je současných světelných mikroskopů, Knoll a Ruska prokázala design byl možný ao dva roky později překonal světelného mikroskopu v teleobjektiv. Všechny další iterací elektronového mikroskopu jsou na základě tohoto původního prototypu.
Transmisní elektronový mikroskop (TEM)

transmisní elektronové mikroskopy vytváření obrazů záznamem elektronového paprsku po něm prošla tenký plátek vzorku. Vzorek je umístěn na mřížce měděných drátů a vystaví se působení elektronového paprsku, zpravidla generováno běžícím vysokého napětí přes wolframového vlákna. Elektronový paprsek prochází kondenzátoru objektivu, udeří vzorku a pokračuje přes objektivní a projektivní čoček před shromážděné na obrazovce fosforu. Stejně jako u všech forem elektronové mikroskopie, musí cílový vzorek k dehydrataci a izolován ve vakuu, aby se zabránilo kontaminaci vodní páry, které mohou způsobit nežádoucí rozptylu elektronů. Témy produkují největší zvětšení ze všech elektronových mikroskopů.
Rastrovacího elektronového mikroskopu (SEM)

skenovací elektronové mikroskopy, spolu s mikroskopy přenosu elektronů, jsou nejvíce široce používán. Na rozdíl od témy, rastrovací elektronové mikroskopy vytváření obrazů sběrem druhotných nebo inelastically rozptýlené elektrony, které se odrážejí od povrchu vzorku. Primární elektronový paprsek prochází několika kondenzátorových čoček, snímání cívky a čoček objektivu před nárazu na povrch vzorku. Elektronový paprsek je rozptýlený po nárazu na vzorek a detektor sekundárních elektronů shromažďuje rozptýlené elektrony. Elektron údaje se pak rastr zkontrolován produkovat snímky povrchu se značnou hloubkou ostrosti.
Reflection elektronový mikroskop (REM)

mikroskopy Reflection elektron působí velmi podobný SEM , pokud jde o strukturu. REMs, nicméně, sbírat odražených nebo pružně odražených elektronů po primární elektronový paprsek dopadá na povrch vzorku. Mikroskopy odraz elektronů jsou nejvíce obyčejně spojený s spin-polarizované nízkoenergetické elektronové mikroskopie na obrázek magnetické domény podpis vzory povrchů ve stavebnictví počítačovým obvodům.
Skenování transmisní elektronový mikroskop (STEM)

Skenování transmisní elektronové mikroskopy, jako tradiční témy, projít elektronový paprsek přes tenký plátek vzorku. Místo soustředění se elektronový paprsek po průchodu vzorkem, STEM soustřeďuje paprsek předem a vytváří obraz pomocí skenování rastrových. Skenování transmisní elektronové mikroskopy jsou vhodné pro analytické metody mapování, jako jsou elektronové spektroskopie energetické ztráty a prstencovou zástinu mikroskopie.